產(chǎn)品分類
Product Category美國(guó)Trio-Tech 半導(dǎo)體高加速壓力測(cè)試系統(tǒng)傳遞,高加速應(yīng)力測(cè)試(HAST)結(jié)合了高溫不久前、高濕度交流、高壓和時(shí)間生動,以測(cè)量元件的可靠性主動性,無論是否具有電偏置優勢。HAST測(cè)試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測(cè)試的壓力積極。它本質(zhì)上是一種腐蝕失效測(cè)試適應性強。腐蝕型故障加速技術交流,在較短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)包裝密封,材料和接頭等缺陷拓展。偏置高加速壓力測(cè)試(BHAST)利用與HAST測(cè)試相同的變量(高壓創造更多,高溫和時(shí)間),但增加了電壓偏差不斷進步。BHAST測(cè)試
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