美國(guó)TRIO-TECH高加速老化試驗(yàn)箱(HAST)測(cè)試領(lǐng)域的技術(shù)和市場(chǎng)行動力，擁有技術(shù)* HAST 系統(tǒng)提供有力支撐，提供更方便、更安全的交鑰匙解決方案保供，包括系統(tǒng)自行開發、機(jī)架進行部署、培訓(xùn)和測(cè)試服務(wù)，在全球有 600 多個(gè)安裝點(diǎn)應用情況。
HAST-1000X保護好、HAST-6000X 和 HAST-9000X 加壓濕度測(cè)試系統(tǒng)為塑料封裝集成電路
和其他微電子器件的傳統(tǒng)濕熱 85/85 溫度和濕度測(cè)試提供了一種快速、經(jīng)濟(jì)的替代方法有很大提升空間。
據(jù)半導(dǎo)體行業(yè)的技術(shù)計(jì)算運行好，HAST 測(cè)試比傳統(tǒng)測(cè)試方法快 10-40 倍。這種高度加速的 測(cè)試能更快地對(duì)日益復(fù)雜的微電子產(chǎn)品進(jìn)行表征可能性更大、評(píng)估和鑒定部署安排。
HAST高加速老化試驗(yàn)箱設(shè)備性能：
?HAST、AUTOCLAVE技術、85/85 測(cè)試
可根據(jù)要求進(jìn)行
? 測(cè)試容量大
測(cè)試容量范圍為 64 - 380 升（其他尺寸可根據(jù)要求提供）
? 觸摸屏控制器
便于操作的觸摸屏操作
? 靈活的偏導(dǎo)線配置
廣泛的應(yīng)用和實(shí)驗(yàn)
? 4 ATM 系統(tǒng)
在 85% 相對(duì)濕度條件下提供 150oC 的最高溫度
? 4 個(gè)數(shù)字輸出
觸發(fā)外部電源開/關(guān)
? 電源控制
允許通過(guò)可變通信類型對(duì)外部電源進(jìn)行編程/觸發(fā)

產(chǎn)品特點(diǎn)：
1了解情況， 最新的 HAST 系統(tǒng)采用了雙容器系統(tǒng)設(shè)計(jì)，帶有的圓周加熱系統(tǒng)技術研究，可提供均勻的溫度和濕度控制（+/- 2°Χ, +/- 5% RH），并消除被測(cè)設(shè)備上的冷凝現(xiàn)象開展研究。 這就確保了測(cè)試數(shù)據(jù)的可靠性姿勢。
2，我們的所有 HAST 系統(tǒng)均符合 ASME 4 ATM 的額定值首要任務，可在 85% 相對(duì)濕 度下進(jìn)行高溫測(cè)試綠色化。85% 相對(duì)濕度下的最高溫度為1 5 0 ° C .許多工藝都需要高溫 HAST測(cè)試，而這是可以實(shí)現(xiàn)的發展。

3保持穩定，非筆６該模式可對(duì)溫度、濕度面向、測(cè)試時(shí)間支撐作用、斜坡上升、電源循環(huán)和斜坡下降進(jìn)行多步驟編程建設項目。該模式還提供自動(dòng)啟動(dòng)電源驗(yàn)證最為突出、校準(zhǔn)和 PID 值調(diào)整功能。數(shù)據(jù) 保存周期 - 1 秒相結合。硬盤 CF 內(nèi)存高效化。 Hast 系統(tǒng)采用觸摸屏計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，可對(duì)所有腔室參數(shù)和電源進(jìn)行簡(jiǎn)單控制為產業發展。有兩種編程模式可供選擇範圍和領域。

4，計(jì)算機(jī)顯示器上可顯示測(cè)試條件圖表 各項要求。所有測(cè)試參數(shù)和最多四個(gè)電源的數(shù)據(jù)記錄都可直接導(dǎo)入標(biāo)準(zhǔn) USB 端口或局域網(wǎng)連接的服務(wù)器進(jìn)行存儲(chǔ)或傳輸?shù)竭h(yuǎn)程 PC更高要求。
5，有多種類型和數(shù)量的偏置導(dǎo)線可用于不同的 ,應(yīng)用，如測(cè)試板監(jiān)控數字技術、動(dòng)態(tài)測(cè)試和泄漏電阻測(cè)試奮戰不懈。可選配快速斷開偏置線連接器措施，便于拆卸測(cè)試架進(jìn)行清潔和維護(hù)大大縮短。

6，所有 HAST系統(tǒng)都能執(zhí)行高壓釜測(cè)試流程和 HAST 測(cè)試緊密相關。測(cè)試開始時(shí)更默契了，測(cè)試所需的加濕水會(huì)自動(dòng)從水箱中取出。還提供 85/85 選件培訓，可將流程功能擴(kuò)展到非加壓濕度測(cè)試不合理波動。在進(jìn)行 HAST 測(cè)試和 85/85 測(cè)試之間的相關(guān)性研究時(shí)，建議使用該選項(xiàng)重要工具。
7積極拓展新的領域，該選項(xiàng)允許在每次測(cè)試后將 N2 吹掃到系統(tǒng)中。這將減少系統(tǒng)的斜坡下降時(shí)間更優質，從而防止測(cè)試設(shè)備出現(xiàn) "烘烤效應(yīng)"相對開放。
8，該選項(xiàng)允許在每次測(cè)試開始前將 N2 吹掃到系統(tǒng)中脫穎而出。這將清除系統(tǒng)中的空氣拓展應用，防止蒸汽在升溫過(guò)程中積聚在測(cè)試設(shè)備上。

規(guī)格：

性能參數(shù)表：

參考標(biāo)準(zhǔn)：


安全功能：

壓力：.緊急超壓安全閥能力建設、自動(dòng)最佳試驗(yàn)室超壓吹掃模樣、超壓警報(bào)和加熱器自動(dòng)切斷。
溫度 ：腔體過(guò)熱傳感器建立和完善、圓周加熱器和腔體加熱器提供了遵循、蒸汽泄漏、低水位切斷 .
電氣： 熔絲控制面板大型、系統(tǒng)和加熱器斷路器服務效率、接地系統(tǒng) 檢測(cè)供水故障、不完重要意義、全門鎖漏電斷路器統籌發展、溫度傳感器斷開保護(hù)器。
系統(tǒng)還配有一個(gè)外部報(bào)警終端追求卓越，帶有報(bào)警蜂鳴器和指示燈逐漸完善。出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)參與能力，蜂鳴器會(huì)發(fā)出聲音，附近的人會(huì)立即收到警報(bào)是目前主流。
該系統(tǒng)采用手動(dòng)或自動(dòng)門鎖機(jī)制選項(xiàng)充分發揮，并在此基礎(chǔ)上運(yùn)行。這可以防止在試驗(yàn)室加壓時(shí)
打開門充分發揮。

TRIO-TECH高加速老化試驗(yàn)箱選擇適用，HAST快速老化試驗(yàn)箱，HAST高加速老化試驗(yàn)箱設計，HAST芯片高壓高溫高濕老化箱業務指導。HAST半導(dǎo)體高加速老化試驗(yàn)箱，HAST試驗(yàn)箱就此掀開。